Testissä Intelin 510-sarjan SSD-asemat: SATA 6 Gb/s saapuu

Artikkelin kirjoittaja: Teemu Laitila | 0 kommenttia

Testitulokset: I/O-suorituskyky





Intelin kannalta on luultavasti hieman epäonnekasta, että aloitan nämä vertailut yleensä Iometer-sovelluksen testeillä. Verrattuna PCI Express –väylää käyttäviin asemiin kuten OCZ:n RevoDrive X2:n tai edes perinteisiin SATA-väylään kytkettäviin asemiin kuten Vertex 3, Intelin SSD 510 on I/O-suorituskykynsä puolesta vain kohtalaisella tasolla eivätkä tulokset juuri parane jonon syvyyksien kasvaessa.

Marvellin ensimmäisen sukupolven 6 Gb/s –ohjaimeen perustuva RealSSD C300 jää SSD 510:n jalkoihin matalilla jononsyvyyksillä, mutta parantaa vauhtiaan samanaikaisten pyyntöjen määrän kasvaessa niinkin korkealle kuin kahdeksaan. Tämän jälkeen sen kahdeksankanavainen arkkitehtuuri ei hyödy useammista samanaikaisista pyynnöistä.



OCZ:n Vertex 3 ja Vertex 3 Pro hallitseva tiedostopalvelimen testiä. Intelin juuri julkaisema SSD 510 jää OCZ:n vanhojen Agility 2 – ja Vertex 2 –levyjen jälkeen (molemmat perustuvat 25 nm:n flash-muistiin).
Intelin vielä vanhempi X25-M suorastaan reputtaa testin jopa useampien yritysten jälkeen, kun jononsyvyys yltää yli neljän samanaikaisen pyynnön.



OCZ:n Vertex 2 ottaa pahasti osumaa Internet-palvelinta simuloivassa testissä, jossa levyltä luetaan paljon pieniä määriä dataa. Asemalta voidaan kuitenkin odottaa tämän kaltaisia tuloksia niin kauan, kunnes OCZ korjaa virheenkorjaukseen liittyvät ongelmat, joista keskusteltiin aikaisemmassa artikkelissa (englanniksi).

Ja kuten Intel kertoo myös aseman teknisissä tiedoissa, SSD 510 on I/O-suorituskyvyltään vanhaa X25-M-mallia hitaampi.



OCZ:n Vertex 3 –asemat dominoivat näitäkin testejä. Agility 2 ottaa hieman yllättäen kolmannen sijan päihittäen 25 nm:n flash-muistiin perustuvan Vertex 2:n. Crucialin RealSSD C300 sijoittuu kahden vanhemman OCZ:n aseman väliin ohittaen Agility 2:n kun jononsyvyys kasvaa yli kahdeksan samanaikaisen pyynnön. Intelin SSD 510 sijoittuu toiseksi viimeiselle sijalle johtuen testin suuresta määrästä satunnaisia luku- ja kirjoitusoperaatioita ja sekä muutamista jatkuvista operaatioista, joissa hyötyy hyvästä lukunopeudestaan.

Kommentoi artikkelia